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    產(chǎn)品資料

    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

    如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
    產(chǎn)品名稱: 通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)
    產(chǎn)品型號(hào): H1020A
    產(chǎn)品展商: Haoluntech
    產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

    簡(jiǎn)單介紹

    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)主要是應(yīng)用于針對(duì)常規(guī)電子設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)的企業(yè)、科研機(jī)構(gòu)、檢測(cè)中心等。測(cè)試系統(tǒng)選取工業(yè)、科學(xué)、醫(yī)療、信息設(shè)備的常用電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目作為系統(tǒng)項(xiàng)目組成,并且可以根據(jù)用戶實(shí)際情況進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目的設(shè)定。 本系統(tǒng)對(duì)于常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試優(yōu)化,如可選用雙天線法進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試、多載頻輻射抗擾度測(cè)試等。在滿足測(cè)試規(guī)范要求的情況下程度的提升密集型測(cè)試需求。 針對(duì)初次進(jìn)行電磁兼容實(shí)驗(yàn)室建設(shè)的用戶,我司可提供系統(tǒng)整體規(guī)劃、測(cè)試方案設(shè)計(jì)、項(xiàng)目實(shí)施、資質(zhì)申請(qǐng)、測(cè)試環(huán)境建設(shè)及咨詢服務(wù)。協(xié)助您在滿足要求的前提 下程度優(yōu)化實(shí)驗(yàn)室方案,保護(hù)項(xiàng)目投資及擴(kuò)充實(shí)驗(yàn)?zāi)芰Α? 基本測(cè)試項(xiàng)目: 1.輻射騷擾試驗(yàn) 2.傳導(dǎo)騷擾試驗(yàn) 3.射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) 4.射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn) 5.靜電放電抗擾度試驗(yàn) 6.電快速脈沖群試驗(yàn) 資及擴(kuò)充試驗(yàn)?zāi)芰Α?


    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)  的詳細(xì)介紹


    1.輻射騷擾試驗(yàn)

    測(cè)試說明
        電子設(shè)備在工作時(shí),由于高頻信號(hào)及非線性器件的存在會(huì)產(chǎn)生高頻的干擾信號(hào),這些信號(hào)會(huì)通過電磁波輻射的方式發(fā)射到空間中,一方面會(huì)對(duì)設(shè)備自身性能產(chǎn)生影響,另外一方面也會(huì)影響周邊其它設(shè)備。因此需要對(duì)電子設(shè)備在工作時(shí)產(chǎn)生的干擾信號(hào)大小進(jìn)行測(cè)試并加以
    限制,以保證其它敏感設(shè)備的正常工作。
    指標(biāo)說明
    測(cè)試等級(jí): 30MHz一6GHz
    依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022)
                   GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)

                   及采用類似測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
    測(cè)試環(huán)境: 電波暗室


    2.傳導(dǎo)騷擾試驗(yàn)

    測(cè)試說明
        電子設(shè)備在工作時(shí),由于高頻信號(hào)及非線性器件的存在,會(huì)產(chǎn)生高頻的干擾信號(hào),這些信號(hào)會(huì)通過電源線、信號(hào)線等互連電纜傳播出去。一方面會(huì)對(duì)自身性能產(chǎn)生影響,另外一方面也會(huì)影響互連其它設(shè)備。因此需要對(duì)電子設(shè)備在工作時(shí)產(chǎn)生的傳導(dǎo)干擾信號(hào)大小進(jìn)行測(cè)試并加以限制,以保證其它接收設(shè)備的正常工作。
    指標(biāo)說明
    測(cè)試等級(jí): 150kHz一30MHz
    依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022)
                   GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)
                   及采用類似測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
    測(cè)試環(huán)境: 電磁屏蔽室


    3.射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

    測(cè)試說明
        自然空間內(nèi)存在大量的廣播、電視、手機(jī)等電磁信號(hào),電子設(shè)備內(nèi)部也存在大量的電磁信號(hào),這些電磁發(fā)射信號(hào)會(huì)通過空間傳播的方式進(jìn)入電子設(shè)備內(nèi)部,并產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)信號(hào),從而造成電子設(shè)備的性能下降或功能喪失。因此為保證電子設(shè)備的正常工作,必須對(duì)其抗干擾能力進(jìn)行測(cè)試。
    指標(biāo)說明
    測(cè)試等級(jí): 80MHz一6GHz 10V/m  80%AM
    依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 17626. 3
                   IEC/ISO 61000-4-3
                   及采用類似測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
    測(cè)試環(huán)境:由油日吝室


    4.射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)

    測(cè)試說明
        電子設(shè)備內(nèi)部和外部都存在大量的互連電纜,電纜上存在的干擾信號(hào)會(huì)通過連接線進(jìn)入電子設(shè)備內(nèi)部并產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)信號(hào),從而造成電子設(shè)備的性能下降或者功能喪失。因此為保證電子設(shè)備的正常工作,必須對(duì)其傳導(dǎo)抗干擾能力進(jìn)行測(cè)試。
    指標(biāo)說明
    測(cè)試等級(jí): 150kHz-80MHz 140dBuV typ
    依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB 17626. 6
                   IEC/ISO 61000-4-6
    測(cè)試環(huán)境: 電磁屏蔽室


    5.靜電放電抗擾度試驗(yàn)

    6.電快速脈沖群試驗(yàn)

    ==


    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

    通用設(shè)備電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)

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